Untersuchung von Architekturen von Mikrocontrollern durch EMFI

Abstract:

Diese Arbeit stellt eine vergleichende Analyse von zwei weit verbreiteten Mikrocontrollern vor: STM-32 und NXP Cortex M-0. Der Schwerpunkt des Vergleichs liegt auf ihren mikroarchitektonischen Unterschieden und ihrem Sicherheitsverhalten bei elektromagnetischer Fehlerinjektion (EMFI). Das Verständnis der Fehlerresistenz dieser weit verbreiteten Mikrocontroller ist angesichts der wachsenden Bedeutung eingebetteter Systeme in kritischen Anwendungen wie Smart-Cards oder Automobil- und Industriesteuerungssystemen von entscheidender Bedeutung.

Zwei zentrale Forschungsfragen leiten diese Arbeit:

• Wie beeinflussen Architekturunterschiede die Anfälligkeit auf Anweisungsebene für EMFI?
• Welche Unterschiede sind im Pipeline-Verhalten zu beobachten, insbesondere bei Verzweigungen und Befehlsabrufphasen?